HCC-24磁阻法測厚儀概述：

HCC-24磁阻法測厚儀

本儀器采用電磁感應(yīng)原理進(jìn)行測量， 符合標(biāo)準(zhǔn)ISO2178和國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T4956。當(dāng)探頭與覆蓋層接觸時(shí)，探頭和磁性基體構(gòu)成一閉合磁回路，  由于非磁性覆蓋層存在， 使磁路磁阻增加， 磁阻的大小正比于覆蓋層的厚度。通過對磁阻的測量， 經(jīng)電腦進(jìn)行分析處理， 由液晶顯示器直接顯示出測量值。

2  技術(shù)參數(shù)

1）測量范圍： 0μm～1200μm。

2）示值誤差：±((1~3)%H+1μm） H為被測涂層厚度。

3）分辨率：1μm。

4）小測量面的直徑：  φ10mm。顯示窗主機(jī)2

5）顯      示：4位LCD顯示測量的次數(shù)、平均值、大值、小值，同時(shí)指示儀器的工作狀態(tài)及電池使用情況。

6）電     源：一節(jié)6F22型9V電池。

7）外形尺寸：160 mm×80 mm×30mm。

8）質(zhì)     量：約250g。

9）使用環(huán)境：溫度0℃～40℃；相對濕度不大于90%。

3  儀器外型

為了保證儀器正常工作并獲得佳工作狀態(tài)， 請注意以下2個(gè)使用細(xì)節(jié)：

1.在儀器開機(jī)時(shí)，使探頭遠(yuǎn)離被測件和其它鐵磁性物體（10cm以上），直到儀器顯示“0μm”為止。

2.每次測試后，盡量上提探頭，使其遠(yuǎn)離被測件，這樣會使儀器處于良好的環(huán)境適應(yīng)狀態(tài)。

6  正式測試前的準(zhǔn)備工作

用戶購買HCC-24 磁阻法測厚儀后的新儀器在進(jìn)行實(shí)際使用前， 都必須要進(jìn)行儀器的校正， 這是保證儀器達(dá)到標(biāo)稱精度的重要保證，請務(wù)必重視。儀器有多種校正方法， 使用很靈活， 用戶可根據(jù)實(shí)際需要選擇如下一種方式：

1） 全范圍高準(zhǔn)確度的傳統(tǒng)校正法

用戶通過隨機(jī)配備的三個(gè)不同厚度的試片和裸基體完成校正，具體步驟如下：

步驟一

在儀器處于開機(jī)后的狀態(tài)時(shí)， 按一下 “校正CAL”鍵，儀器屏上會出現(xiàn)“CAL”，同時(shí)會顯示一個(gè)數(shù)值，該數(shù)值如果不為“0”，按“>”鍵，直到該數(shù)值由大到小變到“0”為止。然后將探頭放在裸基體的測試面上進(jìn)行測試（注意， 這里的裸基體一定要和實(shí)際被測物的材料和形狀*相同。 不要使用隨機(jī)配備的標(biāo)準(zhǔn)金屬基塊， 那只能用來驗(yàn)證儀器本身工作是否正常， 不能用來校正儀器） 。 可以測試幾下， 待儀器上顯示的數(shù)值基本穩(wěn)定后， 按一下“校正CAL”鍵，儀器的零點(diǎn)便校正完畢，它會顯示一個(gè)新的數(shù)值。

步驟二

該試片平放在裸基體上，探頭再壓在上面進(jìn)行測試，可以重復(fù)幾次。待儀器顯示的測量值穩(wěn)定后，按一下“校正CAL”鍵，個(gè)試片的校正結(jié)束，儀器又顯示下一個(gè)校正片的厚度值。

步驟三

用步驟二相同的方法， 只是所用試片要換成厚度200μ m左右的那一片。

步驟四

依然和步驟二相同， 但所用的試片要換成1200μm左右的那一片。到這個(gè)步驟的后階段，按一下“校正CAL”鍵， 儀器屏上還會繼續(xù)顯示一個(gè)校正片的厚度值， 如“1999”，不用再做下去了，再按一下“校正CAL”鍵，校正便全部結(jié)束了。 這時(shí)的儀器便可以進(jìn)行高準(zhǔn)確度的實(shí)際測量了。

在以后使用時(shí)，如果有必要，可以再次做上面四個(gè)步驟的校正。 儀器會記住了上次的零點(diǎn)和每個(gè)試片的厚度值， 這樣就可以根據(jù)儀器提示， 不用再修正試片厚度值，便能輕松完成各個(gè)步驟。

2）上下限校正法

在大多數(shù)情況下， 用戶使用本儀器測試的對象有一定的共性， 如材料和形狀相同， 涂層厚度也局限在某個(gè)范圍內(nèi)， 此時(shí)用戶關(guān)心的也許是被測對象的涂層是否超差。 如果這些條件成立， 那么就沒有必要使用上面多步驟的傳統(tǒng)校正法， 而只需要運(yùn)用上下限校正便能很好地完成使命。

本方法只需要兩個(gè)步驟校正兩點(diǎn)，當(dāng)然，這兩點(diǎn)好直接選用用戶被測件涂層允許范圍中的小和大厚度。這樣校正的結(jié)果， 儀器在這兩個(gè)校正點(diǎn)上的精度非常高，甚至比上面?zhèn)鹘y(tǒng)的校正還要好。 要實(shí)現(xiàn)這一點(diǎn)， 用戶首先要設(shè)法獲得符合這兩個(gè)校正點(diǎn)厚度的試片， 可以向本公司提出購買特殊試片的要求， 也可以自行尋找符合條件的樣品。 于苛求試片或樣品的厚度值與理想的校正點(diǎn)*相符。 有了這兩個(gè)厚度片或?qū)嶋H樣品后， 校正便可按如下步驟進(jìn)行：

步驟一

先校正兩者中較小的那個(gè)厚度值。 在儀器開機(jī)后的狀態(tài)下，按一下“校正CAL”鍵，用“<”或“>”鍵調(diào)整儀器顯示的厚度值， 使其和兩點(diǎn)中較小的那個(gè)厚度值一致。然后，在裸基體上平放對應(yīng)厚度的試片，探頭再壓上進(jìn)行測試。如果是樣品，那么直接測試該樣品?？梢灾貜?fù)幾次測試，待儀器顯示的測試值穩(wěn)定后，按一下“校正CAL”鍵，該點(diǎn)的校正便完成，儀器進(jìn)入下一點(diǎn)校正。

步驟二

接上一步驟，用“<”、  “>”鍵調(diào)整儀器顯示的厚度值， 使其和兩點(diǎn)中較大的那個(gè)厚度值一致。 按步驟一同樣的方法， 用另一塊對應(yīng)的試片或樣品進(jìn)行測試， 待儀器顯示的測量值穩(wěn)定后，按兩次“校正CAL”鍵（后一次按鍵使儀器退出校正過程），上下限的校正便完成了。

如果以后還要做同樣的上下限校正， 借助儀器已經(jīng)記住的兩個(gè)校正點(diǎn)厚度值， 能進(jìn)一步讓用戶省去上面兩個(gè)步驟中調(diào)整厚度的那部分操作， 使用將更加便捷。

3）單點(diǎn)校正法

有時(shí)候，受條件限制，譬如被測體是個(gè)凹面，無法使用很難彎曲的厚試片進(jìn)行校正； 或者用戶接觸到的涂層厚度局限在一個(gè)相對較小的范圍內(nèi)。 此時(shí)， 只能或只需要用一個(gè)校正點(diǎn)。這個(gè)校正點(diǎn)可以是裸基體（零點(diǎn)），也可以是某個(gè)任意涂層厚度的樣品。 如果用戶的接觸到的被測件涂層厚度在某個(gè)較小范圍內(nèi)， 如100μ m左右， 那么這個(gè)校正點(diǎn)選100μ m是合適的。 校正點(diǎn)定好以后就可以開始校正了， 只有如下一個(gè)步驟：

在儀器開機(jī)后的狀態(tài)下，按一下“校正CAL”鍵，用“<”或“>”鍵調(diào)整儀器顯示的厚度值，使其為“0”或與樣品的厚度值一致。 然后， 將探頭直接放在裸基體上進(jìn)行測試。 如果是樣品， 那么直接測試該樣品。 可以重復(fù)測幾次，待儀器顯示的測試值穩(wěn)定后，按兩下“校正CAL”鍵（后一次按鍵使儀器退出校正過程），單點(diǎn)校正便完成了。

同樣， 如果以后還要做同樣的單點(diǎn)校正， 借助儀器已經(jīng)記住的校正點(diǎn)厚度值， 能進(jìn)一步讓用戶省去上面步驟中調(diào)整厚度的那部分操作，使用將更加便捷。

相對于上面的幾種方法， 本校正法的操作簡單。 但代價(jià)是儀器的測試精度在遠(yuǎn)離校正點(diǎn)處可能會有所降低。用戶可以不妨試用一下本校正法， 以便判斷它能否滿足實(shí)際的測試要求。

4）任意多個(gè)校正點(diǎn)校正法

如果用戶接觸到的被測物件形狀比較特殊， 而且涂層厚度的范圍也比較大， 同時(shí)精度又有更高的要求， 那么用戶可以自行挑選多個(gè)校正點(diǎn) （多10個(gè)） 進(jìn)行校正， 儀器允許的校正點(diǎn)厚度為0～1999μm。有一點(diǎn)請注意，在實(shí)際進(jìn)行校正的過程中， 多個(gè)厚度執(zhí)行順序必須由小到大依次進(jìn)行。具體的操作步驟和上面的傳統(tǒng)校正法類似， 此處就不再重復(fù)了。

9  儀器的日常維護(hù)

1）儀器使用完畢后，應(yīng)放入清潔、干燥的儲存箱里，避免沖擊和振動。

2）探頭應(yīng)避免敲擊和強(qiáng)烈振動并保持清潔，被測物上的污物在測量前必須被清除。

3） 儀器長時(shí)間不用時(shí)， 應(yīng)取出電池， 以免電池漏液損壞儀器。